牙周探诊思维导图

1）工具：牙周探针的尖端为钝头，顶端直径为0.5mm，探针上有刻度。Nabers探针专用于根分叉探诊。

3）影响探诊结果准确性的因素：探诊力量、探入角度、探针的粗细及形状、探针刻度的精确性、牙石的阻挡以及炎症程度的影响等，探诊检查时应注意这些影响因素。

1）探诊深度（PD）：指龈缘至袋底或龈沟底的距离。以mm为单位记录。健康牙龈的龈沟探诊深度不超过2～3mm，在健康状态下探针可进入结合上皮；有炎症时探针会超过结合上皮。进入炎症区达健康结缔组织冠方。经治疗后，结缔组织中炎症细胞浸润消失，胶原纤维新生，使结缔组织对探诊的抵抗力增强，探针不再穿透进入结缔组织中，而是中止在结合上皮内。

2）附着水平（AL）：指袋（沟）底至釉牙骨质界的距离，也称临床附着水平（CAL）。附着水平的确定是将探诊深度减占釉牙骨质界至龈缘的距离，以mm为单位记录；若有龈退缩，则是将探诊深度加上龈退缩的距离。

3）探诊后出血：探诊出血这一指标不能作为病情进展的指标，是探诊后不出血却可以作为牙周组织处于稳定阶段的较好指标。如果多数部位都存在探诊出血，可以预示有可能附着丧失在进展，它是附着丧失加重的重要危险指标之一。

4）龈下牙石：龈下牙石是沉积于龈缘之下、附着在龈沟或牙周袋内的牙面上，用探针才能检查到。

5）根分叉病变的探查：用普通的弯探针或专门设计的Nabers探针探查多根牙的分叉区。检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区，再从腭侧分别探查近中和远中的根分叉区，但有的会有变异，需从颊侧探入；检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区。探查的内容应包括：探针能否水平方向探入分叉区，水平探入的深度，分叉的大小，有无釉质突起，根柱的长度，根分叉区是否有牙龈覆盖，注意检查根分叉区是否暴露。