TSS 初始化掉盘问题思维导图

试制数据分析--韦学伟4/11 （By 人、班次、时间等统计）

同机框历史数据排查--柯泽圆 4/11 (过去1年数据，区分SATA/SAS)

机框&端口集中性排查--柯泽圆 4/11

IP SAS框硬盘背板接口尺寸数据---蒋彬 4/11

发生问题IP SAS框插拔次数统计，确认超使用周期---蒋彬 4/11

UM310a 满框10轮插拔测试，确认结果一致性---李磊 4/11

FT1/TSS/ST 一次性测试数据良率 4/11

量测不良盘片金手指是否符合标准(参考SATA 协议标准)，同步与UM310a 对比---李磊 4/11

金手指历史数据统计---柯泽圆 4/11

可引起盘片不在位信号确认--苏志强 4/11

fail盘片眼图测试结果输出---陈明明 4/11

复现并量测X分信号导通性以及POWERDIS 信号电平状况---汪将剩 4/11

后续工单FT1测试完成后追踪盘片是否在位 ---韦学伟 4/11（持续）

实验室模拟TSS 上下电初始化TU 循环压测---汪将剩 4/11

FT1初始化复现是否有同有的问题---项亮亮 4/11

复现示波器勾POWERDIS /5V POWER 电平状况，优先POWERDIS信号--汪将剩、韦学伟 4/11