ICP仪器分析性能脑图思维导图

通常根据分析线的稳态信号进行测定。多元素同时分析时需溶液样品几毫升。多元素顺序分析则按所分析元素的数目而需要较多的溶液。结合特殊进样技术和测量瞬态信号的电子学装置可分析微升量的溶液样品。

原则上全部金属元素都可分析。低浓度的碱金属分析有困难。测定B、C、P、N、S需要真空光谱仪或通气赶除空气的光谱仪。

要求光谱仪具有挑选分析线波长、避开严重光谱干扰的灵活性。光谱仪的灵活性与多元素同时分析能力互相制约，但光谱仪灵活性越大，顺序分析的能力越大。

S=ΔI/ΔC 式中，C为试样液浓度；I为分析线强度。 在浓度较低时，S通常是常数。灵敏度高低在一定程度上反映仪器对该元素在某浓度下能检出的发射强度的大小。灵敏度高有利于低浓度的测定。

在光滑的非结构背景中分析线的波光位置上，能确信可检出的最小信号为基线(背景或空白)噪声的标准偏差σg的K倍，此信号所相对应的分析元素浓度值被定义为检出限。

位于光滑的非结构背景上的谱线，其净信号的相对标准偏差为10%时相应的浓度被定义为测定限，这个浓度约为检出限的五倍。

影响精密度的主要因素是雾化器的闪烁噪声。

ICP-AES仪器的准确度取决于标准样品与被分析样品匹配到何种程度。

工作曲线的线性范围可达4～6个数量级，因此可以分析痕量、微量、少量和主量的组分。

与电弧、火花、化学火焰等光源相比，ICP的基体效应轻微得多。在电弧、火花光源中，由于元素的分馏效应，基体可通过改变电极温度而改变被测元素蒸发行为，基体因进入放电区直接影响放电参数和弧焰温度，从而改变原子化过程和激发态粒子的Boltzmann分布，易电离元素基体在分析区产生大量电子而改变分析元素原子数与离子数的关系，影响原子线或离子线的信号强度。